昕銳X1200Pro測距儀

昕銳X1200Pro測距儀技術(shù)參數

激光測距儀測量法具有以下優(yōu)點(diǎn)。

　?、倩谙蛭矬w發(fā)射能量，不存在盲區(Missing part)。

　?、趯ξ矬w表面性質(zhì)(顏色、質(zhì)地、紋理)不加限制。

　?、劭芍苯舆M(jìn)行測量。

　?、軣o(wú)需取得圖像及對圖像作分析處理。

969年，Hildebrand和Haines從相干光學(xué)的觀(guān)點(diǎn)出發(fā)，提出了一種采用雙波長(cháng)光源的全信息等高技術(shù)。它可以在物體上生成等高線(xiàn)，等高線(xiàn)的分辨率取決于光源波長(cháng)，且不能任意變化。Hildebrand和Haines提出的另一種方法是由兩個(gè)具有不同波長(cháng)的點(diǎn)光源產(chǎn)生的干涉條紋在物體上生成等高線(xiàn)，與種方法相比，第二種方法產(chǎn)生的等高線(xiàn)圖的分辨率可以從波長(cháng)級變化到忽米級。對于雙光源系統來(lái)說(shuō)，其主要問(wèn)題是，若物體上有一些“漩渦花樣"，特定區域將不能清晰地描繪出全息等高圖。相關(guān)測量法對測量環(huán)境要求*，一般只能在實(shí)驗室條件下測量，且不易于實(shí)現自動(dòng)化。